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BS 3363 Supplement No. 2-1981 半导体器件和微型集成电路用字母符号规范.第1次补充

作者:标准资料网 时间:2024-05-23 17:42:46  浏览:9976   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Specificationforlettersymbolsforsemiconductordevicesandintegratedmicrocircuits
【原文标准名称】:半导体器件和微型集成电路用字母符号规范.第1次补充
【标准号】:BS3363SupplementNo.2-1981
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1981-01-30
【实施或试行日期】:1981-01-30
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:符号;场效应晶体管;模拟电路;半导体二极管;基准电压二极管;半导体整流器;信号二极管;集成电路;整流二极管;双极晶体管;半导体闸流管;半导体器件;晶体管;电性质和电现象;图形显示字符;数字集成电路;字母
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40;L55
【国际标准分类号】:31_200;31_080_01;01_080_40
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法
英文名称:Measurement of shielding effectiveness of high-performance shielding enclosures
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 电子元器件与信息技术综合 >> 电磁兼容
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 电学、磁学、电和磁的测量
替代情况:被GB/T 12190-2006代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1990-02-01
实施日期:1990-08-01
首发日期:1990-02-01
作废日期:2006-11-01
主管部门:国家标准化管理委员会
归口单位:全国无线电干扰标准化技术委员会
起草单位:电子标准化所
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:19页
适用范围

本标准规定了高性能屏蔽室相对屏蔽效能的测试和计算方法。本标准适用于金属板结构,能将电场和磁场抑制若干数量级的高性能屏蔽室。尤其适用于各边尺寸在15~150m之间的长方形屏蔽室。本标准适宜采用常规设备在非理想条件的现场进行测试。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 电子元器件与信息技术综合 电磁兼容 计量学和测量 物理现象 电学 磁学 电和磁的测量
【英文标准名称】:Gymnasticequipment;vaultingbucks,dimensions,requirements,testing
【原文标准名称】:体育和体操器械.跳马.尺寸.要求.检验
【标准号】:DIN7904-1980
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1980-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:脚轮;体操器材;公差;作标记;体操训练;安全工程;体育器材;设计;尺寸;规范(审批);材料
【英文主题词】:schoolgymnastics;gymnasticequipment;marking;safetyengineering;tolerances(measurement);castors;design;specification(approval);dimensions;materials;sportsequipment
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y55
【国际标准分类号】:7270;7850
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语



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